本文標題："晶粒構成的多晶體試樣檢測用電子顯微鏡的常識"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2014-8-20 12:41:33
晶粒構成的多晶體試樣檢測用電子顯微鏡的常識
當一電子束穿過任一晶體的周期性晶格時，將會被衍射.如
果將透射電子顯微鏡的光學布置稍作改變，就能把試樣的衍射花
樣(而不是表面形貌圖象)投影在熒光屏上.如相對于光束的截面
積而言，晶體的尺寸足夠大，
則將產生衍射斑點并可用晶體結構來
診釋.對于近似完整的晶體，還能看到菊池線(Kikuohi lines);
有時可用它們來測定晶體取向.由很多尺寸比光束面積小得多
的，并且無規則取向的小晶粒構成的多晶體試樣，將產生圓環狀
的衍射花樣。取一級近似，環的直徑D可由下式給出(除非在試樣
與熒光屏之間還有放大級存在)，
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