本文標題："檢測金相顯微鏡通常使用小于100倍的放大倍數"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-8-20 17:15:31

檢測金相顯微鏡通常使用小于100倍的放大倍數

X射線形貌照相上面所述的衍射儀并不是觀察衍射效應

的唯一方法.例如，適當地選擇x射線、試樣和底片的幾何位置.

則由位錯和層錯這樣的品體缺陷造成的附加衍射效應將產生缺陷

照相圖象(x射線形貌照相).照片是試樣和試樣內部有垂直于衍

射面的柏格斯矢量的分量的所有位錯的1:1的投影復型.任何放

大都必須通過其后的底片的放大才能獲得，并且由于底片的彩.

粒度的影響，放大倍數只限于幾百倍之內.可是，在半導體工作中，

通常使用小于100倍的放大倍數.因為放大倍數低，因而與電子顯

微鏡觀察相比，分辨率是差的.當位錯密度相當低時，這方法最

適合.形貌照相廣泛用來研究器件工藝過程中引起的損傷缺陷，

與其它方法相比，它具有非破壞性的優點.

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