本文標題："實驗檢測用電子顯微鏡-分辨率非常高的表面特征"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2014-8-19 5:15:15
實驗檢測用電子顯微鏡-分辨率非常高的表面特征
由于大多數試樣在通常狀態下，對直接用于研究來說都不夠薄，
因此減薄試樣是透射電子顯微鏡實驗程序中的重要一環.如果需要
研究的是比較厚的復合材料中的單個薄層，
則寧可采取剝層而不是減薄的辦法.例如，若要研究集成電路中200
埃厚的N i/Cr電阻器的結構時，則可先從電路塊背面相繼去除一個
小區域中的硅和氧化硅，并從正面去除保護授蓋層.于是電阻膜將
由沒有去掉的硅支撐著:
這樣可以固定整個組件以供檢測.只有當需要分辨率非常高的表
面特征時才應該使用表面復型法，否則掃描電子顯微鏡更為便
利.
后一篇文章：從固定的接觸點上測量電流-測量光學儀器 »
前一篇文章：« 電子顯微鏡具有幾個光學顯微鏡的很不同的特點
tags:技術,金相顯微鏡,上海精密儀器,
實驗檢測用電子顯微鏡-分辨率非常高的表面特征,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/1806.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/