本文標題："掃描式電子顯微鏡量測量光纖截面的結構"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2013-5-16 23:27:15
由我們的實驗結果證實一般掃描電位顯微儀用來量測費米能階的位置常受到外在因素的影響而無法 ??準確得知，
但藉由掃描式光電子顯微術，將光束聚焦至幾百奈米等級的大小，可達到在微區量測干凈截面的實驗要求，
而直接得到本質費米能階的位置。
檢查用補助器具
檢查用補助器具如下列照片（1.1～1.7）所示。
檢查人員應攜帶器具為金屬直尺、凸尺(Convex Yule)、銲道規、隙規、口袋型電筒、擴大鏡等。
在制造與施工中之中間檢查所使用補助器具與機器為銲接電流與電壓檢測器、
測定預熱與銲道層間溫度之各種表面溫度計或溫度筆及記錄用相機
通訊系統的蓬勃發展，傳統的電纜線系統傳輸容量已漸不敷需求，
因此光纖通訊可解決頻寬的問題，未來將成為趨勢，光纖通訊系統中的
光纖透過適當的加工處理后便可成為光纖光柵，其為被動元件之ㄧ，可
應用在：濾波器、光分波多工器、放大器、色散補償器以及可以取代現
有的溫度-應力應變感測器，由于光纖是用矽材質制成，所以元件本身對
外界的抗干擾性十分良好，應用在感測器的敏感度方面也十分理想。
高斯無足型光纖光柵上裹 UV 膠，改變反射頻譜頻寬，轉換均勻週期光柵為
週期漸變的光柵。完成週期漸變型光纖光柵方法有很多種，典型的方法
利用週期漸變相位光罩來制作，缺點是週期漸變量大小固定，所以本文
使用簡易 UV 膠的方式使光纖光柵達到週期漸變型態；
光纖光柵可微調封裝架構的機制，將光柵的中心波長微調到 ITU
(International Telecommunication Union)所制定的波道規格中，使訊號
不會因受外在因素影響波道產生偏移而傳遞失真。本論文的實驗方法是
利用 UV 上膠技術改變光柵週期漸變量，方法簡易，并且能精準控制光柵頻寬
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