本文標題："非接觸式測量顯微鏡基本原理-可根據客戶需要定制顯微鏡"
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非接觸式測量顯微鏡基本原理-可根據客戶需要定制顯微鏡
非接觸式測量顯微鏡測量原理
非接觸式測量顯微鏡以裂像聚焦指示器為測量原理, 采用非接
觸式測量顯微鏡高精度光學聚焦點檢測方式進行非接觸式測量
顯微鏡非接觸高低差測量。
非接觸式測量顯微鏡不僅可以對準目標影像, 還能觀察非接觸
式測量顯微鏡測量點的表面狀態(tài),對非接觸式測量顯微鏡高度,
非接觸式測量顯微鏡非接觸式測量顯微鏡深度,高低差等進行測
量。
非接觸式測量顯微鏡本儀器的各種鏡筒還具有明暗非接觸式測量
顯微鏡微分干涉，非接觸式測量顯微鏡金相，偏光非接觸式測量
顯微鏡等多種觀察功能。
非接觸式測量顯微鏡基本原理功能
非接觸式測量顯微鏡所以對極細微的間隙高低差，非接觸式測量
顯微鏡夾雜物、非接觸式測量顯微鏡微米以下的突起、非接觸式
測量顯微鏡細微劃痕、以及金相組織非接觸式測量顯微鏡進行觀
察。
非接測量顯微鏡還可以根據客戶需要定光學測量研究分析檢測
種光源，熒光紅用于特殊場所觀測。數碼測量顯微鏡是一種可
靠實用的精密測量儀器。
非接觸式測量顯微鏡基本原理與用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上
的針尖對樣品表面作光柵式掃描。
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