干涉顯微鏡的簡介和應(yīng)用

干涉顯微鏡的簡介
        干涉顯微鏡是 采用通過樣品內(nèi)和樣品外的相干光束產(chǎn)生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉(zhuǎn)換為振幅（光強(qiáng)度）變化的顯微鏡，根據(jù)干涉圖形可分辨出樣品中的結(jié)構(gòu)，并可測定樣品中一定區(qū)域內(nèi)的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固定的相互分散的細(xì)胞或組織的厚度或折射率。

干涉顯微鏡的主要用途
    什么時候需要用到（干涉）相差顯微鏡呢？相差顯微鏡具有兩個其他顯微鏡所不具有的功能:
①將直射的光(視野中背景光)與經(jīng)物體衍射的光分開;
②將大約一半的波長從相位中除去，使之不能發(fā)生相互作用，從而引起強(qiáng)度的變化。
這種顯微鏡最大的特點是可以觀察未經(jīng)染色的標(biāo)本和活細(xì)胞。
用干涉（相差）顯微鏡拍攝的圖片