本文標題："截面測量顆粒大小分布計量圖像顯微鏡"
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截面測量顆粒大小分布計量圖像顯微鏡
截面測量計量顆粒的空間大小分布
對集合體中的顆粒一般是從試樣薄片和光片中某個截面上測量的。由
于截面效應所測得的并不是顆粒空間真正的大小和分布，因此只有在一定
的假設條件下，才能從截面的測量值推導出顆粒空間大小的分布。最簡單
的是把非球狀顆粒假想成同體積的球狀顆粒，按體視學方法根據投影尺寸
計算球狀顆粒在空間尺寸的分布，主要有截面圓法和弦長法，相比之下前
者精度要高一些。進行全自動圖像分析時要求用圖像對比度好的樣品。需
要采用半自動或人工分析時，多采用弦長法，這樣測量及其數據處理要簡
單得多。
1．弦長法
通過測量截平面上測試線段在顆粒上所截得弦長計算顆粒在空間尺寸
分布的方法，稱為弦長法。
2．截面圓法
從測定顆粒截面圓的直徑分布來計算顆粒在空間尺寸分布的方法，稱
為截面圓法。
圖像分析粉料試樣的制備
圖像分析的測量范圍和儀器的分辨本領有密切關系，不同儀器的放大
倍數和分辨本領測量范圍相差甚大，對制備試樣的方法和要求亦不一樣。
圖像分析儀的分辨本領隨聯機的顯微鏡分辨力而定，光學儀器的放大倍數
是由幾何光學決定的，而電子儀器的分辨本領則取決于衍射理論。現分別
簡單介紹它們試樣的制備方法和要求。
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