本文標(biāo)題："接觸式與非接觸式量測(cè)影像測(cè)量?jī)x器有什么不同"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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為了獲得最佳的量測(cè)效果而言，需依據(jù)量測(cè)工件幾何形狀的不同，選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)頭。
以下針對(duì)接觸式與非接觸式量測(cè)系統(tǒng)，所使用的測(cè)頭種類作一介紹。
(一) 機(jī)械式測(cè)頭：
包括：球型、圓形、圓柱型及萬(wàn)能型等。
以手動(dòng)方式移動(dòng)測(cè)頭接觸工件表面，并配合使用腳踏開(kāi)關(guān)做為觸發(fā)，擷取座標(biāo)點(diǎn)資料，將資料傳回處理器。
(二) 觸發(fā)式測(cè)頭：
觸發(fā)式測(cè)頭無(wú)論在任何位置及方向，只要其測(cè)針偏離原來(lái)的中心位置至某一程度時(shí)，立即產(chǎn)生一個(gè)檢測(cè)信號(hào)，
已廣泛被世界各主要制造三次元量測(cè)儀之廠商所采用。
(三) 類比式測(cè)頭
測(cè)頭接觸工件時(shí)，會(huì)有側(cè)向的位移，由可變線圈感應(yīng)或是由光學(xué)尺感應(yīng)，
將電壓變化轉(zhuǎn)成可解析的數(shù)位訊號(hào)，并可求出與座標(biāo)間的關(guān)系。
在量測(cè)時(shí)，工件與測(cè)頭必須保持接觸，不可中途離開(kāi)工件表面，
不適用于曲率變化過(guò)大之待測(cè)物量測(cè)。
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