本文標(biāo)題："在砂—泥巖剖面泥巖中儲(chǔ)集層分析顯微鏡"
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在砂—泥巖剖面泥巖中儲(chǔ)集層分析顯微鏡
定性和定量特征劃分儲(chǔ)集層。這些特征在砂—泥巖剖面上在地層水和
鉆井泥漿礦化度的不同比例條件下已研究得很清楚了。對(duì)于孔隙型碳酸鹽
巖也建立了能在其圍巖的背景上劃分出儲(chǔ)集層并確定有效厚度的定性標(biāo)準(zhǔn)
。在高孔隙和高滲透地層中確定的定性特征，能夠以很高的準(zhǔn)確性(達(dá)99．
5%)劃分出儲(chǔ)層并確定其飽和特性。這樣的特征具有足夠的普遍性·
在巖性和孔隙空間結(jié)構(gòu)不均勻的薄層泥巖中，定性特征不可能得勁那
種統(tǒng)一的估價(jià)，從而在單井的剖面上劃分儲(chǔ)集層。因此，為了解決問(wèn)題可
采用半定量和定量分析法，以及對(duì)單井要求做特殊的準(zhǔn)備。照例，這些方
法不僅能劃分儲(chǔ)集層并確定其厚度，而且能定性確定其飽和性質(zhì)。
方法建立在利用含油氣層和含水層中地球物理參數(shù)分布的不同性質(zhì)，
利用存在的儲(chǔ)集層參數(shù)下限，在儲(chǔ)集層和非儲(chǔ)集層內(nèi)的井壁附近帶產(chǎn)生的
差異。
在薄互層的砂—泥巖剖面中，確定各個(gè)砂巖儲(chǔ)集層的總有效厚度是在
整個(gè)層段和其中各個(gè)巖性類別的地球物理和地質(zhì)—物理特性間的關(guān)系基礎(chǔ)
上進(jìn)行的。為了確定儲(chǔ)集層有效厚度
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