本文標題："工業(yè)金相顯微鏡廠家，電子產品檢測儀器"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2013-1-18 5:59:9
功能
◆顯微觀察
●晶片可自動傳送到顯微鏡平臺上進行觀察
●倍率可自由選擇
●可選擇目視觀察,螢幕觀察,數位影像儲存
●提供多種觀察方法可供選擇(明視野 暗視野 微分干涉觀察法 螢光觀察法 深層紫外光觀察
◆晶面目視檢查
●觀察晶面表面,利用照明裝置更簡單的檢查晶片上異物微粒、刮痕、薄膜等等…
●可改變晶片觀察角度
●可旋轉晶片(順時針方向 逆時針方向 不轉動)三種模式
●可改變旋轉速度(6 to 30 seconds/rotation 連續(xù)式)
●多種光源可供選擇
◆晶背目視檢查
●可控制晶片觀察角度角度(連續(xù)360度翻轉)及記憶觀察角度
●翻轉時除了使用吸力吸附晶片外,增加防掉落裝置
◆第二次晶背目視檢查
●觀察在在第一次被吸嘴擋到的部分,達到百分百晶背全面檢查
后一篇文章：增強電子穿透試片的能力-TEM與SEM顯微鏡的功能 »
前一篇文章：« 顯微鏡檢查300mm晶片及外觀檢查-搭配多種的觀察方法
tags:技術,金相顯微鏡,上海精密儀器,
工業(yè)金相顯微鏡廠家，電子產品檢測儀器,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/478.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/