本文標(biāo)題："全息照像測(cè)量技術(shù)-光切顯微鏡制造設(shè)計(jì)定制廠商"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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全息照像測(cè)量技術(shù)-光切顯微鏡制造設(shè)計(jì)定制廠商
因?yàn)橛梢稽c(diǎn)到另一點(diǎn)的光程變得雜亂無(wú)章了，所以相應(yīng)的干涉圖
象的組織也是不規(guī)則的，它的空間頻率很高。由于這個(gè)原因，以
及物體在兩個(gè)比較狀態(tài)中，其表面形狀發(fā)生明顯的變化時(shí)，例如
，表面上涂了漆或經(jīng)過(guò)化學(xué)腐蝕時(shí)，全息照像干涉測(cè)量技術(shù)就不
能比較各種發(fā)散的透明物體和反射物體了。但是， 當(dāng)物體表面
形狀發(fā)生變化時(shí)，可利用減少條紋的對(duì)比度，來(lái)觀察這種變化的
特性，例如，用于觀察腐蝕過(guò)程。全息照像干涉測(cè)量和普通干涉
測(cè)量是有區(qū)別的。它能利用同一個(gè)光路記錄不同時(shí)刻的波前，這
就能用由真實(shí)物體所得到的干涉圖與標(biāo)準(zhǔn)物體干涉圖進(jìn)行比較。
此時(shí)，一般說(shuō)來(lái)，對(duì)光學(xué)器件的質(zhì)量要求并不十分重要。因?yàn)榧?/div>
使光學(xué)零件不完善，兩個(gè)干涉波的變化程度仍是一樣的。較粗糙
的表面，用全息照像干涉測(cè)量技術(shù)比較方便，只是在全息圖方向
上要散射足夠的光雖。它不需要比較標(biāo)準(zhǔn)樣件，就可以進(jìn)行任意
的相對(duì)測(cè)量。例如，可以測(cè)量當(dāng)表面變形或受壓縮時(shí)，表面移動(dòng)
的情況。這時(shí)，原始的表面狀況，可以用作最終表面狀況的標(biāo)準(zhǔn)
樣件。最深的概念在全息照像中已失去了意義，因再現(xiàn)物體的厚
度只與所用激光的相干長(zhǎng)度有關(guān)。
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