本文標(biāo)題："晶粒的不同晶面的溶解速度不同的原理分析顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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晶粒的不同晶面的溶解速度不同的原理分析顯微鏡
如，金相蝕抗分析法，它利用金屬試樣在特定的溶液
中浸蝕時(shí)，晶粒的不同晶面的溶解速度不同的原理，使表
面形成具有一定規(guī)則形狀的多面錐體腐蝕坑，而錐面即是
由該晶體中溶解速度最快伯晶面所組成，由此來判斷各個(gè)
晶粒的位向，這種方法比較簡(jiǎn)單，直觀，但在確定位向時(shí)，
尚需進(jìn)行一系列的計(jì)算，有的計(jì)算還很煩雜，精度也不高，
隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，X 射線衍射法，電子通道圖分析法、
表面特征痕跡分析法，二面角分析法等，都可較精確地測(cè)
定晶體地信息，但需用專門的貴重設(shè)備，制備特殊的試樣，
操作也非常復(fù)雜，因此在生產(chǎn)實(shí)際中，還難以成為常規(guī)的
測(cè)試手段。
我們認(rèn)為，彩色金相對(duì)晶體位向的顯示，可能具有一
定的應(yīng)用價(jià)值，曾經(jīng)設(shè)想，利用這種技術(shù)可以做來半定量
地檢驗(yàn)織構(gòu)的手段，這一設(shè)想已得到了實(shí)驗(yàn)的初步證實(shí)，
對(duì)冷軋并退火的銅合金，用彩色金相顯示晶體位向的方法
確定的織構(gòu)程度，與X 光檢驗(yàn)結(jié)果大體吻合，看來，在這
方面的實(shí)際應(yīng)用是有希望的。
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