歡迎來到上海光學儀器一廠

本文標題："晶粒截面分析樣品,實際試樣中相鄰晶粒分析"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2015-5-4 21:5:17

晶粒截面分析樣品,實際試樣中相鄰晶粒分析

由于實際試樣中相鄰晶粒之間的取向差不同，各個相

鄰晶粒對之間的表面能差值也將不同。所以盡管從整體上講晶粒

長大已被阻止，但也存在這樣的可能性，即在試樣的某些局部，個

別晶粒與其鄰晶相比表面能特別低，從而能獲得足夠大的驅動力

以克服各種因素(如表面蝕溝、雜質原子、第二相粒子等)的阻

力而繼續生長。由于此時其他晶粒的生長已受阻礙，這些個別晶粒

的長大必然表現出異常晶粒長大的特征。

樣中的正常晶粒長大受表面蝕溝的阻礙而停止時，常常會發生由

于表面能差異而誘發的異常晶粒長大。給定的材料中往往只有個

別晶面具有最低的表面能，例如，在面心立方金屬中具有最低表

面能而可能成為二次晶粒的是以及面平行于表面的晶粒，在鐵硅

合金中是以及面平行于表面的晶粒。

改變退火時的氣氛條件將可能改變不同取向晶粒之間表面能

的差異，從而改變異常晶粒長大后的材料織構.這一原理已被用于

硅鋼片的生產工藝控制，以求獲得盡可能集中的戈斯織構或者立

方織構。

tags:材料學,技術,金相顯微鏡,上海精密儀器,

晶粒截面分析樣品,實際試樣中相鄰晶粒分析,金相顯微鏡現貨供應