本文標題："研究礦物的包裹體光學儀器-巖石礦物顯微鏡"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2015-2-4 10:59:2

研究礦物的包裹體光學儀器-巖石礦物顯微鏡

研究礦物的包裹體，目前國內主要是測定礦物的成

礦溫度，為此，必須首先要把含有包裹體的巖石礦物磨制成兩而

磨光的透明薄片，以供在顯微鏡下進行觀察研究。

根據均勻勻化法(均一法、均化法)測溫對礦物包裹體兩面

磨光透明薄片的要求，礦物包裹體測溫薄片要符合下列規格:

1)薄片要有代表性，要能盡量包括該標本所反映的成礦齊

期次的礦物。

2)制成的薄片，含包裹體礦物的透明度要好(因為包裹體

很小，如礦物不透明或透明度差，就很難找到包裹體)，同時均

勻勻化法測溫，它只適用于透明礦物，所以，薄片要求兩面拋光。

3)切片時要注意一定的晶向，以便研究各種包裹體的特

征。對結品好的礦物，各晶軸方向都要切一片，且要求片子不能

破碎。

4)制片整個工藝流程中，要求溫度控制在80℃以下，以保

證一些低溫的氣液包裹體不致爆破。

5)兩面磨光薄片的厚度一般為0.1-0.7毫米，主要視礦

物的透明度而定。

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