本文標題："電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-10-14 22:2:33

電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬

掃描電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬，因

而有可能宏觀斷口分析和顯微鏡斷口分析結合起來。點在研究服役

過程中的斷裂事故時特別有用。

盡管透射電子顯微鏡的放大位數高些，但掃描電子顯微鏡能用

來研究粗糙的斷口，這是透射電子顯微鏡做不到和，

掃描電子顯微鏡還適于觀察非常小的斷口（如線材的斷口），

而在確定主斷裂和次斷裂源以及匹配斷口的對應區時，掃描電子顯

微鏡也能用來觀察大尺寸的斷口。

這里有必要對掃描電子顯微鏡試樣制備的一皯問題作簡要敘述

：試樣可能是在實驗室內確定的條件下斷裂；也可能是在服役現場

斷裂的，這兩種情況下得到的斷口表面狀況是不一樣的。在前一種

情況里，

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