本文標題："礦物測量光學顯微鏡,晶體微觀分析儀器"

礦物測量光學顯微鏡,晶體微觀分析儀器

滑移片可以任意滑動，則是晶體外形發生旋轉，
而滑移面和滑移向不變，滑移后，晶體只有形態的改變
而無光性方位的改變;若兩端被固定，晶體不旋轉，

其滑移面和滑移系卻發生了轉動，這樣變形后的礦物集合體
不僅形成了形態優選方位，也形成了光性的優選方位。

在光學顯微鏡下，單個晶體滑移后晶格的方位并不變，
不能產生可見的效應，只有在某些特殊情況下，
才可以看到滑移線或其他異常條紋，如沿滑移線吸附、充填有雜質等。

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